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當(dāng)前位置：先鋒科技股份有限公司>>產(chǎn)品展示>>光學(xué)膜厚量測(cè)儀
M-2000系列光譜橢偏儀旨在滿足薄膜量測(cè)的各種需求
橢偏儀theta-SE多點(diǎn)量測(cè)橢偏儀是一種用於表徵薄膜均勻性的光譜式橢偏儀
橢偏儀光譜橢偏儀Alpha-SE非破壞性薄膜厚度量測(cè)儀是J.A.Woollam橢偏儀產(chǎn)品中
利用反射原理推算膜厚，完整的軟體資料，內(nèi)建500種以上材料數(shù)據(jù)供比對(duì)
MProbe 20系列非破壞性反射式膜厚儀
MProbeHC是一個(gè)完整量測(cè)薄膜上硬鍍層的平面或曲面系統(tǒng)
VUV-VASEEllipsometer薄膜厚度量測(cè)儀以M-2000為主體
J.A.WoollamVASE是一款高精度多角度橢圓偏光儀，V-VASE系統(tǒng)非接觸式膜厚量測(cè)，垂直擺放樣品，移動(dòng)精度高，量測(cè)角度從15-90度，可進(jìn)一步量測(cè)樣品...
干涉式膜厚儀-使用光進(jìn)行非接觸式厚度測(cè)量Bristol膜厚儀使用光的特性來(lái)精確測(cè)量透明、半透明和一些不透明材料的厚度
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